说说采样板的故障排除和损坏的原因
发布时间:2019-05-17 02:52


采样板的概念和定义在前面的文章中介绍。我不会重复;它就像最靠近电池的一线战斗机,直接感觉到电池的脾气;如下图所示,采样板的正常连接顺序是模块的电池芯。采样线束连接到采样板的连接器,然后通过保护电路和滤波电路到AFE。其中,采样板最常见的损坏是AFE的损坏,其特点是功能异常,表面有烧痕,黑色针脚。黄;采样板上有滤波电路,均衡电路损坏,如电容短路,电阻开路,保险开路等。

在得到客户的故障部件后,一般不要急于检查上电功能,以免造成二次损坏。首先看外观,包括外壳,连接器端口等;然后打开外壳,看电路板,一般板烧坏的故障会有明显的烧痕,如电阻器变黑,芯片引脚变黄,先锁定故障区域;然后启动仪器进行长时间故障排除,测试锁定区域内设备的导通状态,此时,您需要冷静下来并慢慢进行操作。小心不要轻易做出任何结论。让董事会为自己说话。务必记录故障。最好在电路图上标记故障点。例如,平衡电阻器在某处断开。如果引脚短路等;如果他们都被检查出来,他们就找不到了。此时,您可以尝试开机测量功能,看看是否有异常;当然,小组讨论可以提高故障排除的效率。

ASIC损坏通常由电过应力(EOS)引起,这意味着器件受到超出其标称范围的电应力(电流或电压)。 ASIC的长度可分为ESD和波。浪涌,直流压力。 ESD通常在1us以内,浪涌超过1us,DC应力超过1s。

对ESD和DC应力有很好的理解,但它对浪涌并不十分熟悉。存在许多浪涌源,例如雷电感应,电缆放电,热插拔,通电和冲击,电感元件放电以及电容充电和放电。难点在于如何测试和验证,如何制定有效的浪涌参数,还需要进一步的研究;一般制造商会推荐参考保护电路设计,但如果你看得更深,工程师需要挖掘一些东西。

当EOS出现在电路中时,很可能发生闩锁故障。闩锁效应是CMOS工艺特有的寄生效应,这会严重地导致电路发生故障甚至烧毁芯片。在这种情况下,器件会在电源和地之间产生短路,导致高电流,EOS(电气过载)和设备损坏。具体原理是百度,但理解起来真的很复杂。

除了研究故障现象和故障原理外,还需要掌握采样板的工作环境,以确定故障原因。环境因素主要是指电池的布置。许多制造商使用相同的AFE来桥接多个模块。这种情况应该避免。 AFE文章中详细解释了原因;但不幸的是,这种场景存在。如下图所示,在这种情况下,为了确保连接的铜条的可靠连接,阻抗必须很小;甚至一些制造商也会在跳线上放置保险丝。这是一个非常危险的操作,保险丝的阻抗大于铜条的阻抗,如果保险丝意外熔断,AFE将被损坏,客户必须三思而后行。

另外,当对跳线模块进行采样时,组装模块的过程中的布线也是一个值得关注的问题。如果模块之间连接错误的线路,很容易损坏AFE;连接后,连接到采采样板线捆绑包。

总结:

无论何时,电路板的损坏肯定会对硬件工程师产生很大的影响。各方面的压力都集中在这里,问题的背景往往不明确,所以我们一般都知道它的坏处。但是,为什么很难一次性找到原因,客户必须理解它;好吧,抱怨明天继续发现问题(午夜5.15)。以上所有内容仅供参考。 免责声明:本文由OFweek维科的作者发表,并不代表OFweek维科的位置。如果您有任何侵权或其他问题,请及时与我们联系报告。

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